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S1 · シミュレーション

チップ接合部温度の解析

AMB 積層基板の定常熱伝導

個人プロジェクト(自主制作) · 公開資料に基づく一般的な構造の模式図 · いずれの雇用主の製品とも無関係

接合部温度 Tj

125.6°C

等価熱源ノード

Rth,j-f
0.606K/W
ΔT
60.6K
パラメータスタディ
温度°C
65.0125.6

模式的な温度分布 · 局所温度は未検証。

厚さ方向を拡大して表示

ドラッグ/矢印キーで回転 · ホイール/+/- で拡大縮小 · Home でリセット · クリックで層を選択1 本指で回転 · 2 本指で拡大縮小 · タップで層を選択

熱抵抗の構成

0.606 K/W

パラメータスタディ

スライダーでパラメータを変え、接合部温度と熱抵抗の変化を確認する。比較しやすいよう、変えるのは一度に 1 つのパラメータだけにするとよい。

チップは固定:5 × 5 × 0.18 mm、熱伝導率 370 W/(m·K)。

100
50W500
65
25°C85
15000
2000W/(m²·K)20000

モデルと検証

解析参照モデル(等価熱抵抗回路網)

定常状態とし、層間は理想接触とする。等価熱抵抗回路網で熱伝導と熱の広がりを見積もる。FEM データで学習したサロゲートモデルにも切り替えられる。

Tj,max と Tj,avg はどちらも同じ等価熱源ノードの値である。このモデルではチップ表面の実際の最高温度と面積平均温度を区別できない。

検証状況

既定条件での解析解ベンチマーク:125.564 °C、0.605642 K/W。解析参照と FEM モデルはそれぞれ独立に計算する。実測による検証はまだ行っていない。

カラー分布はチェビシェフ距離による径方向の減衰と、層間の厚さ方向補間を合成した伝熱の模式表示であり、FEM の結果や検証済みの局所温度場ではない。見やすさのため厚さは層ごとに異なる倍率で拡大している。寸法はパラメータの数値が正。

175 °C は一部の SiC デバイスで一般的な最高接合部温度の目安である。実際の許容値は個々のデバイスのデータシートに従う。

プロジェクトの要点

問い
チップから AMB 積層を経て冷却液に至る放熱経路で、接合部–冷却液間の熱抵抗を支配するのはどの層か。
手法
等価熱抵抗回路網(45° の熱拡散と円板の広がり熱抵抗)を解析参照とし、numpy/scipy で自作した 3 次元定常熱伝導 FEM で学習したサロゲートモデルと比較した。
結果
既定条件(100 W、冷却液 65 °C)で解析参照は Tj ≈ 125.6 °C、0.606 K/W。最大の項は冷却器層(51.7%、ほぼすべてが広がり熱抵抗)。冷却器より上ではセラミック層が最大(16.8%)で、FEM サロゲートでも単一層として最大(20.7%)。